为了研究石墨烯场效应晶体管的不同测试方法, 对其转移特性的影响, 在栅压为0~5 V之间扫描的情况下, 研究了石墨烯晶体管的狄拉克ξ 点变化规律.其变化呈现以下特点: 连续地正向扫描或反向扫描时, 随着次数的增加, 狄拉克点电压逐渐变大; 先加栅压保持一段时间后, 再测转移特性, 0 V保持时, 狄拉克点电压不变, 5 V保持时, 狄拉克点电压变大; 测试之间相互独立时, 正向扫描的狄拉克点电压小于反向扫描的狄拉克点电压; 双向连续扫描时, 第一次测试影响第二次的结果.以上现象表明了狄拉克点电压的大小和已扫描过的栅压大小有关.我们把上述的特点归因于电子注入到氧化≡铪表面的陷阱中.这些现象的发现和解释对石墨烯器件的可靠性, 石墨烯导电特性的控制, 石墨烯电路的实现有明显的参考意义.